Pat
J-GLOBAL ID:200903013152168730

プリント配線基板の検査装置及びプリント配線基板の検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小池 晃 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000099256
Publication number (International publication number):2001281283
Application date: Mar. 31, 2000
Publication date: Oct. 10, 2001
Summary:
【要約】【課題】 安価で且つ容易にインピーダンス等を測定することができる。【解決手段】 多層型プリント配線基板1が配設される基板配設板52と、基板配設板52に配設された多層型プリント配線基板1を基板配設板52側に押圧する押圧板53と、基板配設板52に配設された多層型プリント配線基板1に常時接触しているアースピン62と、押圧板53によって基板配設板52に配設された多層型プリント配線基板1が押圧され、基板配設板52が押圧板53の押圧方向に移動したとき、多層型プリント配線基板1に接触するプローブ65と、押圧板53に基板配設板52が押圧されていないとき、プローブ65を保護し、基板配設板52に配設された多層型プリント配線基板1を押圧板53が押圧したとき、プローブ65上より待避し、プローブ65が基板配設板52に配設された多層型プリント配線基板1に接触可能な状態とする保護カバー71とを備える。
Claim (excerpt):
プリント配線基板が配設される基板配設板と、上記基板配設板に配設されたプリント配線基板を上記基板配設板側に押圧する押圧板と、上記基板配設板に配設されたプリント配線基板に常時接触しているアースピンと、上記押圧板によって上記基板配設板に配設されたプリント配線基板が押圧され、上記基板配設板が上記押圧板の押圧方向に移動したとき、上記プリント配線基板に接触する測定部材と、アースに接続された導電性の部材よりなり、上記押圧板に上記基板配設板が押圧されていないとき、上記測定部材を保護し、上記基板配設板に配設されたプリント配線基板を上記押圧板が押圧したとき、上記測定部材上より待避し、上記測定部材が上記基板配設板に配設されたプリント配線基板に接触可能な状態とする保護カバーとを備えるプリント配線基板の検査装置。
IPC (5):
G01R 27/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28 ,  H05K 3/00
FI (7):
G01R 27/02 A ,  G01R 1/06 E ,  G01R 31/02 ,  H05K 3/00 T ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 S ,  G01R 31/28 K
F-Term (20):
2G011AA13 ,  2G011AB06 ,  2G011AC06 ,  2G011AE01 ,  2G011AF07 ,  2G014AA00 ,  2G014AB59 ,  2G014AC00 ,  2G028AA04 ,  2G028BC01 ,  2G028CG08 ,  2G028JP01 ,  2G028JP04 ,  2G028MS05 ,  2G032AA00 ,  2G032AD03 ,  2G032AE01 ,  2G032AE02 ,  2G032AE08 ,  2G032AK03

Return to Previous Page