Pat

J-GLOBAL ID：200903013163967197

レーザーICP成分分析装置

Inventor： 真鍋 俊樹
Applicant, Patent owner： 日本鋼管株式会社
Agent (1)： 潮谷 奈津夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997048882
Publication number (International publication number)：1998246700
Application date： Mar. 04, 1997
Publication date： Sep. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】 高温に加熱された試料からの輻射熱による熱的影響および粉塵による影響を受けない。【解決手段】 分析室8と、分析室8と独立して設けられた台車室9とからなり、分析室8内には、ICPトーチおよび分光器を備えたレーザーICP成分分析装置本体10が設けられ、台車室9内には、高温に加熱された試料1にレーザーを照射して試料1の一部を蒸発させ、これにより試料1の微粒子を発生させるためのレーザー照射装置11と、レーザー照射装置11を台車室9内において移動させるための分析台車12と、レーザーICP分析装置本体10の校正に使用する標準化試料13とが設けられている。レーザー照射装置11とレーザーICP分析装置本体10とは、微粒子の採取用搬送管14によって互いに連結されている。

Claim (excerpt)：

分析室と、前記分析室と独立して設けられた台車室とからなり、前記分析室内には、ICPトーチおよび分光器を備えたレーザーICP成分分析装置本体が設けられ、前記台車室内には、高温に加熱された試料にレーザーを照射して前記試料の一部を蒸発させ、これにより前記試料の微粒子を発生させるためのレーザー照射装置と、前記レーザー照射装置を前記台車室内において移動させるための分析台車と、前記レーザーICP分析装置本体の校正に使用する標準化試料とが設けられており、前記レーザー照射装置と前記レーザーICP分析装置本体とは、前記微粒子の採取用搬送管によって互いに連結されていることを特徴とするレーザーICP成分分析装置。

IPC (3)：

G01N 21/73 ,  G01N 1/28 ,  G01N 33/20

FI (3)：

G01N 21/73 ,  G01N 33/20 G ,  G01N 1/28 T