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J-GLOBAL ID：200903013174066183

関数データベース生成方法及び関数データベース生成装置

Inventor： 藤原 ゆり ,  鈴木 美佐世 ,  後藤 昌司 ,  下川 敏雄
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007015451
Publication number (International publication number)：2008178606
Application date： Jan. 25, 2007
Publication date： Aug. 07, 2008
Summary：

【課題】関数曲線を各種クラスタに分類した際に、最適分類数を数値指標を用いて定量的に決定した関数データベースを生成できる関数データベース生成方法及び関数データベース生成装置を提供することにある。【解決手段】関数エータベース生成装置Aは、演算処理部3内に複数の関数曲線の関数クラスタ解析結果を取得する関数クラスタ結果取得部31と、該関数クラスタ解析結果のクラスタ毎にまとまり度合いを示す指標を算出し、クラスタ数の変化に対する前記指標の変化が所定値以下になるクラスタ数を分類数として決定する分類数決定部32と、決定された当該分類数で前記関数曲線をデータベース化して出力するデータベース出力部34とを備えている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数の関数曲線の関数クラスタ解析結果から、該関数クラスタ解析結果のクラスタ毎にまとまり度合いを示す指標を算出し、クラスタ数の変化に対する前記指標の変化が所定値以下になるクラスタ数を分類数として決定し、この決定した当該分類数で前記関数曲線をデータベース化することを特徴とする関数データベース生成方法。

IPC (1)：

A61B 5/107

FI (3)：

A61B5/10 300B ,  A61B5/10 300C ,  A61B5/10 300D

F-Term (5)：

4C038VA03 ,  4C038VA05 ,  4C038VB29 ,  4C038VC11 ,  4C038VC20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• パターン集合分類方法およびパターン集合分類装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-004655   Applicant：日本電信電話株式会社
• 体型測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-093376   Applicant：松下電工株式会社
• 座位姿勢適合性評価方法、座位姿勢適合性評価装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-158438   Applicant：工業技術院長
• 身体形状判定方法及び身体形状判定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-138684   Applicant：株式会社資生堂

Cited by examiner (3)

• 体型測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-093376   Applicant：松下電工株式会社
• 座位姿勢適合性評価方法、座位姿勢適合性評価装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-158438   Applicant：工業技術院長
• 身体形状判定方法及び身体形状判定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-138684   Applicant：株式会社資生堂

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 非階層型関数クラスタ-解析に基づく姿勢の評価

Cited by examiner (1)

• 非階層型関数クラスタ-解析に基づく姿勢の評価