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J-GLOBAL ID:200903013182319937
試料を調査する装置及び方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊東 忠彦 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001572853
Publication number (International publication number):2003529760
Application date: Mar. 29, 2001
Publication date: Oct. 07, 2003
Summary:
【要約】試料を調査するための装置であって、その装置は、放出された電磁放射のビームで試料(27)を照射するためのエミッター(1)、及び試料から反射された放射を検出するための検出器(49)を含み、ここでエミッターの活動部分及び検出器の活動部分の両方として機能する光学的に非線形な部材(15)があり、前記エミッター及び検出器は、光学的に非線形な部材(15)の同じ部分を使用する。電磁放射は、主としてテラヘルツ(THz)周波数範囲にあるように意図される。
Claim (excerpt):
試料を調査する装置であって、 前記装置は、 放出された電磁放射のビームで前記試料を照射するエミッター、及び 前記試料から反射された放射を検出する検出器、を含み、 前記エミッターの活動部分及び前記検出器の活動部分の両方として機能する光学的に非線形な部材があり、 前記エミッター及び検出器は、前記光学的に非線形な部材の同じ領域を使用する装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/35 Z
, G01N 21/21 Z
F-Term (24):
2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059BB13
, 2G059CC16
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE12
, 2G059FF08
, 2G059FF09
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ14
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059MM08
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