光周波数発生器を用いた絶対距離測定方法及びシステム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：恩田博宣 , 恩田誠 , 本田淳 , 池上美穂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008121298
Publication number (International publication number)：2009198477
Application date： May. 07, 2008
Publication date： Sep. 03, 2009
Summary：

【課題】光周波数発生器を用いた絶対距離測定方法及びシステム。【解決手段】(a)光周波数発生器100を用いて、安定化した異なる複数の波長λiを生成するステップと、(b)周波数走査干渉計200を用いて、測定する距離の初期推定値を取得するステップと、(c)取得した初期推定値の不確度の範囲を分析するステップと、(d)多波長干渉計によって各波長λiに対する干渉信号を解析して、各波長λiに対する小数部εiを測定するステップと、(e)初期推定値の不確度の範囲内で、各波長λiに対する整数部miを決定するステップと、(f)上記異なる複数の波長λiに対するそれぞれの小数部εi及び整数部miを用いて、測定する距離の絶対距離Lを測定するステップとを含む。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光周波数発生器を用いた絶対距離測定方法であって、 (a)前記光周波数発生器を用いて、安定化した異なる複数の波長を生成するステップと、 (b)周波数走査干渉計を用いて、測定する距離の初期推定値を取得するステップと、 (c)前記取得した初期推定値の不確度の範囲を分析するステップと、 (d)前記複数の波長の各々に対する干渉信号を解析して、該各波長に対する小数部を測定するステップと、 (e)前記初期推定値の不確度の範囲内で、前記各波長に対する整数部を決定するステップと、 (f)前記異なる複数の波長に対するそれぞれの小数部と整数部とを用いて、測定する距離の絶対距離を測定するステップとを含む、光周波数発生器を用いた絶対距離測定方法。

IPC (3)：

G01S 17/32 , G01C 3/06 , G01B 9/02

FI (3)：

G01S17/32 , G01C3/06 120Q , G01B9/02

F-Term (53)：

2F064AA01 , 2F064EE01 , 2F064FF01 , 2F064FF08 , 2F064GG02 , 2F064GG16 , 2F064GG23 , 2F064GG32 , 2F064GG38 , 2F064GG42 , 2F064GG44 , 2F064HH01 , 2F064HH04 , 2F064JJ04 , 2F064JJ05 , 2F112AD01 , 2F112BA01 , 2F112CA12 , 2F112DA04 , 2F112DA17 , 2F112DA19 , 2F112DA24 , 2F112DA25 , 2F112DA30 , 2F112EA20 , 5J084AA05 , 5J084AC03 , 5J084AC04 , 5J084AD08 , 5J084BA03 , 5J084BA04 , 5J084BA05 , 5J084BA22 , 5J084BA23 , 5J084BA36 , 5J084BA45 , 5J084BA57 , 5J084BB02 , 5J084BB04 , 5J084BB15 , 5J084BB16 , 5J084BB17 , 5J084BB18 , 5J084BB30 , 5J084BB31 , 5J084CA08 , 5J084CA33 , 5J084CA51 , 5J084DA01 , 5J084DA07 , 5J084DA08 , 5J084DA09 , 5J084FA01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

光周波数シンセサイザ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-240542 Applicant：日本電信電話株式会社

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