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J-GLOBAL ID:200903013328578360

トンネル内空断面測定システムおよび該測定システムを用いたトンネル掘削方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 白井 博樹 (外7名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998127398
Publication number (International publication number):1999324560
Application date: May. 11, 1998
Publication date: Nov. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】「余掘り」量を自動的に計測可能にするとともに、計測断面の位置を正確に把握する。【解決手段】トンネル7内空断面をレーザーの回転により計測する内空断面計測器5、ターゲット4および内空断面計測用制御装置3が搭載されたトンネル掘削装置9と、切羽後方で前記ターゲットを視準可能な位置に配設されたレーザー照射器2aおよび位置計測用制御装置2bと、前記ターゲットの視準により内空断面計測器の位置を算出し、内空断面計測器の水準を自動設定する手段と、前記内空断面計測器によりトンネルの余掘り量を算出する手段とを備えたシステム。
Claim (excerpt):
トンネル内空断面をレーザーの回転により計測する内空断面計測器、ターゲットおよび内空断面計測用制御装置が搭載されたトンネル掘削装置と、切羽後方で前記ターゲットを視準可能な位置に配設されたレーザー照射器および位置計測用制御装置と、前記ターゲットの視準により内空断面計測器の位置を算出し、内空断面計測器の水準を自動設定する手段と、前記内空断面計測器によりトンネルの余掘り量を算出する手段とを備えたことを特徴とするトンネル内空断面測定システム。
IPC (4):
E21D 9/00 ,  G01B 15/00 ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00
FI (4):
E21D 9/00 Z ,  G01B 15/00 A ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-282411
  • 特開昭61-202115

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