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J-GLOBAL ID:200903013333915120

光検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993304311
Publication number (International publication number):1995159239
Application date: Dec. 03, 1993
Publication date: Jun. 23, 1995
Summary:
【要約】【目的】 強度変調信号と散乱吸収体を介して出力された光信号との位相差を簡易かつ精度良く測定できる光検出装置を提供する。【構成】 可変光量照射器100から初期値の強度で、所定の周波数の交流成分を有する変調信号で強度変調された光を測定対象である散乱吸収体900に照射する。散乱吸収体900内を伝搬して出力して光検出部300に入力し、その強度に応じた電気信号に変換後して光検出信号として出力される。フィードバック部400は、光検出信号の交流成分を抽出し、この交流電気信号の強度と調整値を比較し、可変光量照射照射器100に発生光量の変化を通知する。こうして、光検出手段の利得を固定したままで、光検出手段から出力される変調周波数を有する交流成分の強度が事前設定された調整値に略一致するように維持されて、位相差検出が実行される。
Claim (excerpt):
散乱吸収体に照射する所定の周波数の交流成分を有する変調信号で強度変調された光を発生する、発生光量または発生光の変調量が外部からの指示により調整可能な可変光量照射手段と、前記可変光量照射手段から出力されて前記散乱吸収体に照射され、前記散乱吸収体内を伝搬して出力した前記所定の周波数の成分を有する光信号を検出する光検出手段と、前記光検出手段が出力する前記光信号の強度を反映した光検出信号を入力して、前記光検出手段が検出した前記光検出信号の交流成分の強度が所定値より小さい場合には前記可変光量照射手段に発生光量また発生光の変調量の増加指示を通知し、前記光検出手段が検出した光検出信号の交流成分の強度が所定値より大きい場合には前記可変光量照射手段に発生光量または発生光の変調量の減少指示を通知するフィードバック手段と、前記変調信号と前記光検出信号とを入力し、前記変調信号と前記光検出信号とのタイミング差、または前記変調信号と前記光検出信号との位相差を求める処理手段と、を備えることを特徴とする光検出装置。
IPC (3):
G01J 1/44 ,  G01J 1/00 ,  G01J 11/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開平2-234048
  • 特開平4-318442
  • 生体光計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-063056   Applicant:株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
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