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J-GLOBAL ID：200903013380239396

蛍光寿命測定装置

Inventor：
小谷 理

About 小谷 理


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004115682
Publication number (International publication number)：2005300311
Application date： Apr. 09, 2004
Publication date： Oct. 27, 2005
Summary：
【課題】簡易な構成で短時間に均一な誤差の蛍光寿命が測定できる蛍光寿命測定装置を提供すること。【解決手段】試料6にパルス励起光を照射しつつ走査し、パルス励起光によって励起された試料6から放出される蛍光光子をカウントし、カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置100において、カウントされた蛍光光子数が所定数に達するごとに、パルス励起光の照射位置を次の照射位置に走査させるスキャナ制御部93を備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置において、 カウントされた前記蛍光光子数が所定数に達するごとに、前記パルス励起光の照射位置を次の照射位置に走査させる走査制御手段を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。
IPC (1)：
G01N21/64
FI (1)：
G01N21/64 B
F-Term (13)：
2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA25 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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