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J-GLOBAL ID：200903013387079955

ファージが引き金を引くイオン・カスケードの検出法(SEPTIC)

Inventor： キシユ,ラズロ ,  ドボジ-キング,マリア ,  ヤング,リランド ,  チエング,モソング ,  ビアード,ジエイムズ・アール ,  ベツルコフ,セルゲイ
Applicant, Patent owner： ザ・テキサス・エイアンドエム・ユニバーシテイ・システム
Agent (1)： 小田島 平吉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007543553
Publication number (International publication number)：2008521407
Application date： Nov. 23, 2005
Publication date： Jun. 26, 2008
Summary：

本発明は、細菌を検出する方法およびギャップの周囲の1個もしくはそれ以上の入力/出力接続部、および1個もしくはそれ以上のバクテリオファージが液体試料内の同族体標的に接触した場合に検出可能な電場変動の引き金を引くギャップにおけるまたはその周囲における1個もしくはそれ以上のバクテリオファージを有するナノ-ウエルデバイスを提供する。

Claim (excerpt)：

ギャップの周囲の1個もしくはそれ以上の入力/出力接続部含んでなるナノ-ウエルデバイス、および1個もしくはそれ以上のバクテリオファージが液体試料内の同族体標的に接触した場合に検出可能な電場変動の引き金を引く、ギャップにおけるまたはその周囲における1個もしくはそれ以上のバクテリオファージ を含んでなる装置。

IPC (3)：

C12M 1/34 ,  G01N 27/02 ,  G01N 33/543

FI (4)：

C12M1/34 B ,  G01N27/02 D ,  G01N33/543 595 ,  C12M1/34 A

F-Term (17)：

2G060AA06 ,  2G060AD08 ,  2G060AF06 ,  2G060AG10 ,  4B029AA07 ,  4B029BB13 ,  4B029CC02 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029FA01 ,  4B029FA03 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ06 ,  4B063QQ10 ,  4B063QS39 ,  4B063QX04