円偏光二色性測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松田正道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995153469
Publication number (International publication number)：1997005165
Application date： Jun. 20, 1995
Publication date： Jan. 10, 1997
Summary：

【要約】【目的】波長を固定して測定する円偏光二色性測定装置を簡単な構成で安価に実現する事を目的とする。【構成】同波長で交互に発光させる2つの光源1,2と、偏光ビームスプリッター6と、1/4波長板7とによって左右円偏光を交互に被検試料8に照射する円偏光二色性測定装置である。

Claim (excerpt)：

直線偏光を発生させる偏光発生手段と、前記発生される直線偏光を利用して、予め定められた波長を有する前記直線偏光についてのみ、互いに実質的に逆向きの回転方向を有する2種類の円偏光に変換させる円偏光変換手段と、所定の計測対象に照射される前記各円偏光の内、その計測対象を透過する各透過円偏光を検出する透過光検出手段と、その透過光検出手段の検出結果に基づいて、前記計測対象による前記各円偏向の吸収量の差を算出する算出手段と、を備えたことを特徴とする円偏光二色性測定装置。

IPC (3)：

G01J 4/00 , G01N 21/19 , G01N 21/21

FI (3)：

G01J 4/00 , G01N 21/19 , G01N 21/21 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特公昭47-032040
半導体レーザ光源装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-010515 Applicant：富士写真フイルム株式会社
複屈折の測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-223192 Applicant：株式会社リコー

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