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J-GLOBAL ID:200903013517900370

溶接欠陥の評価システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 富田 幸春
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994254141
Publication number (International publication number):1996096136
Application date: Sep. 26, 1994
Publication date: Apr. 12, 1996
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】溶接欠陥の放射線透過撮映から得られる画像データに対し、欠陥識別を迅速確実に行う。【構成】試験体の放射線撮影記録した画像データを画像処理することにより、欠陥候補像を検出し、検出した欠陥候補像の形状,濃度等の特徴パラメータを算出し、溶接条件等を特徴パラメータとして加え、予め識別すべき欠陥,欠陥の種類,非欠陥の特徴パラメータ間の相関関係等を学習記憶させた神経回路網5を介して、欠陥、非欠陥及び欠陥の種類を識別するようにする。また、欠陥データについてエキスパートシステムを併用させて、より高度化した判別及び迅速な判定を可能にする。
Claim (excerpt):
溶接部位に対する放射線照射によって得られる処理画像によって算出した欠陥特徴パラメータを入力データとし溶接部の欠陥と非欠陥そして欠陥の種類を識別する評価システムにおいて、上記画像をテレビカメラにより画像データとして取り込み欠陥候補画像を検出し、このようにして検出した欠陥候補画像の特徴パラメータを計算機により算出し、又溶接方法,板厚,材料等の溶接条件をも特徴パラメータとして加え、これに対し予め識別すべき欠陥の種類、非欠陥の特徴パラメータ間の相関関係等を学習記憶させた神経回路網を介して欠陥と非欠陥を識別し、更に該欠陥の種類を識別するようにすることを特徴とする溶接欠陥の評価システム。
IPC (6):
G06T 7/00 ,  B23K 9/095 515 ,  B23K 31/00 ,  G06F 15/18 560 ,  H04N 7/18 ,  G01N 23/18
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平3-209582
  • 特開平3-209582
  • 特開平3-144350
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