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J-GLOBAL ID：200903013525611531

吸着または吸収過程の解析方法および解析装置

Inventor： 北川 哲司
Applicant, Patent owner： 東レ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996179246
Publication number (International publication number)：1998027187
Application date： Jul. 09, 1996
Publication date： Jan. 27, 1998
Summary：

【要約】【課題】物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程または状態を分子シミュレーションする。【解決手段】 物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程及び状態を分子シミュレーションする方法として、(1)カノニカルモンテカルロ法により分子を物質及び/または表面へ吸着及び/または吸収させる工程(CMC工程)。(2)そして吸着及び/または吸収させた構造を記憶し、次の繰り返し計算のCMC工程で用いる初期構造として定義する工程(R工程)。の2工程を含む演算を繰り返し行う。

Claim (excerpt)：

物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程または状態を分子シミュレーションにより解析する方法として、(1)カノニカルモンテカルロ法により分子を物質及び/または表面へ吸着及び/または吸収させる工程(CMC工程)。(2)そして吸着及び/または吸収させた構造を次の繰り返し計算のCMC工程で用いる初期構造として定義する工程(R工程)。の2工程を含む演算を繰り返し行うことを特徴とする吸着または吸収過程の解析方法。

IPC (3)：

G06F 17/50 ,  G06F 17/00 ,  G06F 17/17

FI (3)：

G06F 15/60 638 ,  G06F 15/20 D ,  G06F 15/353