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J-GLOBAL ID:200903013555570082

物質中に存在する化学元素の同位体選択的測定方法及び測定システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石井 陽一
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000574914
Publication number (International publication number):2002526767
Application date: Aug. 24, 1999
Publication date: Aug. 20, 2002
Summary:
【要約】【課題】 物質、特に放射性物質中に存在する化学元素、特に放射性元素の同位体選択的測定方法および測定装置において、全濃度を測定できるとともに、含まれる元素の同位体組成をできるだけ早く測定できるようにすることを課題とする。【解決手段】 測定を目的として、分析対象のサンプルからレーザーアブレーションによってプラズマをサンプルの蒸気クラウドとして発生する光学的発光分光法を、サンプルの蒸気クラウドについてレーザー誘導蛍光励起を行うレーザー誘導蛍光分光法と併用する。
Claim (excerpt):
物質、特に放射性物質中に存在する化学元素、特に放射性元素の同位体選択的測定方法において、測定を目的として、分析対象のサンプル(18、23)からレーザーアブレーションによってプラズマ(24)をサンプルの蒸気クラウドとして発生する光学的発光分光(OES)法を、サンプルの蒸気クラウドについてレーザー誘導蛍光励起を行なうレーザー誘導蛍光分光(LIF)法と併用することを特徴とする測定方法。
IPC (2):
G01N 21/64 ,  G01N 21/63
FI (2):
G01N 21/64 Z ,  G01N 21/63 A
F-Term (10):
2G043AA01 ,  2G043CA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA10 ,  2G043GA02 ,  2G043HA01 ,  2G043JA03 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01

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