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J-GLOBAL ID:200903013615488917
電界効果型トランジスタ用ウエハ及びトランジスタ
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
寺田 實
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993103222
Publication number (International publication number):1994314704
Application date: Apr. 28, 1993
Publication date: Nov. 08, 1994
Summary:
【要約】【目的】 Gax In1-x As/InPヘテロ接合を具備してなるFETに於て、雑音特性の向上を図る。【構成】 InP及びGax In1-x Asからなるヘテロ接合界面近傍のバッファ層とするInP層に歪を内在させる。【効果】 格段の高移動度化が果たされ、もって従来に無い相互コンダクタンスを有するGaInAsFETが顕現される。
Claim (excerpt):
高抵抗のリン化インジウム(InP)結晶基板上にInP層及びヒ化ガリウム・インジウム(Gax In1-x As :x は混晶比を表す)層から構成されるヘテロ接合を具備してなる電界効果型トランジスタ用エピタキシャルウエハに於いて、該InP層内の当該ヘテロ界面から50nm以内にInPの歪層を設けたことを特徴とする電界効果型トランジスタ用ウエハ。
IPC (2):
H01L 21/338
, H01L 29/812
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開平1-223773
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特開昭62-283675
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特開平4-116835
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特開昭62-256477
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化合物半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-239358
Applicant:株式会社東芝
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特開昭61-268069
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