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J-GLOBAL ID：200903013645657756

光波反射断層像観測装置

Inventor： 丹野 直弘
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999239882
Publication number (International publication number)：2001066245
Application date： Aug. 26, 1999
Publication date： Mar. 16, 2001
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 広ダイナミックレンジで高SNで反射信号を走査抽出して、生体などの深部断層の静的あるいは動的構造を検知し、多次元画像化して観測可能にする光波反射断層像観察装置を提供する。【解決手段】 低コヒーレント光源1からの光波を2分割し、一方を物体反射光波10、他方前駆参照光波7とする。前駆参照光波を物体反射光波と分割波面に対応して時空間コヒーレント長以内で合波干渉させ、両波間に相対的周波数シフトを与え、物体反射光波がその画素相当の部分波に対し、合波干渉光12dの画素を走査抽出し、この抽出光を光電変換することにより周波数シフトに相当するヘテロダインビート周波数を検出し、ビート信号と遅延手段とにより鉛直断面分布像の各画素に対し物体奥行きの反射断層像の構成要素とする振幅と位置情報を得て画素信号とする。

Claim (excerpt)：

(a)低コヒーレント光源からの光波を略平行光束としその断面分布の波面を保持して被検体直前にて2分割し一方を照射光波とする手段と、(b)前記照射光波による物体深部からの鉛直断面像を有する物体反射光波を得る手段と、(c)他方を前記物体反射光波に対し相対的に前駆する参照光波を得る手段と、(d)前記前駆する参照光波と前記物体反射光波とが光検出器に至る長光路の擾乱や分散による位相変化を受けるに際し相互に共役な波面との合成干渉検出法により該位相変化を相殺できる同一光路と、(e)前記前駆する参照光波を連続的に遅延し前記物体反射光波と前記分割波面に対応して合波干渉する手段と、(f)前記前駆する参照光波と前記物体反射光波間に相対的周波数シフトを与える手段と、(g)前記物体反射光波が鉛直断面像を形成するためにその画素相当の部分波に対し、合波干渉光の一部を走査抽出する手段と、(h)該抽出された光を光電変換することにより周波数シフトに相当するヘテロダインビート周波数を検出する手段と、(i)ビート信号と遅延手段とにより鉛直断面分布像の各画素に対し物体奥行きの反射断層像の構成要素となる振幅と位置情報を得て深部方向画素信号とする手段と、を具備することを特徴とする光波反射断層像観測装置。

F-Term (15)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059PP04