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J-GLOBAL ID:200903013667792088
多視点画像内挿方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉村 暁秀 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999362563
Publication number (International publication number):2001175863
Application date: Dec. 21, 1999
Publication date: Jun. 29, 2001
Summary:
【要約】【課題】 視点の異なる複数枚の画像から任意の視点での画像を内挿する多視点画像内挿を行なうためには、画像とともに、画像から求められた奥行深度情報もしくは視差情報が必要である。奥行深度情報もしくは視差情報には、ベクトル探索誤りやオクルージョンなどにより情報が欠落したり、情報の誤りが生じる。その結果、内挿画像の画質が劣化していた。【解決手段】 奥行深度情報から得られる曲面に定義された重みづけ関数を最小化するような重みづけで奥行深度情報を平滑化(2)するとともに、奥行深度情報の値の確からしさを示す指標を用いてその平滑化に際しての上記重みづけに必要な重みづけ情報を得る(3)ことによって精度の高い奥行深度情報を得て、その得られた精度の高い奥行深度情報を用い、視点の異なる複数枚の画像から任意の視点での画像を内挿する(4)ように構成した。
Claim (excerpt):
視点の異なる複数枚の画像から任意の視点での画像を内挿する多視点画像内挿方法であって、奥行深度情報から得られる曲面に定義された重みづけ関数を最小化するような重みづけで奥行深度情報を平滑化するとともに、前記奥行深度情報の値の確からしさを示す指標を用いてその平滑化に際しての前記重みづけに必要な重みづけ情報を得ることによって精度の高い奥行深度情報を得て、該得られた精度の高い奥行深度情報を用い、視点の異なる複数枚の画像から任意の視点での画像を内挿するようにしたことを特徴とする多視点画像内挿方法。
IPC (2):
FI (2):
G06F 15/62 415
, G06F 15/72 450 A
F-Term (8):
5B057BA02
, 5B057CD01
, 5B057CE20
, 5B057DC05
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5B080BA02
, 5B080GA22
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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画像合成方法および画像合成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-216843
Applicant:株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント, 株式会社東芝, ソニー株式会社
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ステレオ画像からの視差演算方法と装置並びに奥行き測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-055141
Applicant:松下電器産業株式会社
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画像特徴量比較装置および画像特徴量比較プログラムを記録した記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-235979
Applicant:ミノルタ株式会社
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カラー画像認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-093527
Applicant:富士ゼロックス株式会社
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超音波画像表示装置及び超音波画像表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-293491
Applicant:アロカ株式会社
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多視点画像伝送方法および多視点画像表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-083599
Applicant:松下電器産業株式会社
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特開平4-203908
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特開平4-203908
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視差算出装置、距離算出装置およびこれらの方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-099334
Applicant:ソニー株式会社
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複数画像の中間像生成方法及び視差推定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-104885
Applicant:松下電器産業株式会社
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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