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J-GLOBAL ID：200903013670810879

対象物の細部の寸法を得る方法

Inventor： ウィルティンフ,ヤンチェ エー ,  ティメル,ヤン
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000590106
Publication number (International publication number)：2002533146
Application date： Dec. 09, 1999
Publication date： Oct. 08, 2002
Summary：

【要約】対象物の細部の寸法は対象物に関連するデータ値のデータセットから得られる。データセットは、データ値を多次元空間中の位置に割当てる。多次元空間中で優先方向が選択される。優先方向におけるデータセットの空間解像度の方が他の方向におけるその空間解像度よりも高い。細部の寸法は、優先方向におけるデータ値から得られる。優先方向がデータ値が捕捉される走査面と横断面を交差する交線の方向に延在し、横断面が細部の長手軸方向に垂直に延在することが好ましい。データ値は、とりわけX線計算断層診断撮像システムを用いて捕捉される。

Claim (excerpt)：

多次元空間に割当てられ、対象物に関連するデータ値のデータセットから上記対象物の細部の寸法を得る方法であって、 上記多次元空間中で優先方向が選択され、 上記優先方向におけるデータ値の上記データセットの空間解像度は、上記優先方向以外の少なくとも一方向における上記データ値の空間解像度よりも高く、 上記細部の寸法は上記優先方向におけるデータ値から得られることを特徴とする方法。

IPC (7)：

A61B 6/03 360 ,  A61B 5/055 ,  A61B 8/00 ,  A61B 8/06 ,  G01R 33/32 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 7/60 150

FI (7)：

A61B 6/03 360 J ,  A61B 8/00 ,  A61B 8/06 ,  G06T 1/00 290 A ,  G06T 7/60 150 J ,  A61B 5/05 380 ,  G01N 24/02 520 Y

F-Term (29)：

4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093DA02 ,  4C093FD09 ,  4C093FF16 ,  4C093FF20 ,  4C093FF22 ,  4C093FF46 ,  4C096AA10 ,  4C096AB44 ,  4C096AC10 ,  4C096AD14 ,  4C096DC23 ,  4C301BB13 ,  4C301CC01 ,  4C301EE11 ,  4C301JB03 ,  4C301JC08 ,  4C301JC20 ,  4C301KK24 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057BA06 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5L096BA06 ,  5L096FA64

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開平4-183446