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J-GLOBAL ID：200903013698347422

光断層イメージング装置

Inventor： 金子 守 ,  田口 晶弘 ,  高山 修一 ,  上 邦彰 ,  岡▲崎▼ 次生 ,  窪田 哲丸 ,  安永 浩二 ,  大澤 篤 ,  大橋 一司 ,  大明 義直
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992309076
Publication number (International publication number)：1994154228
Application date： Nov. 18, 1992
Publication date： Jun. 03, 1994
Summary：

【要約】【目的】 病変の浸潤度を容易に測定できる光断層イメージング装置を提供すること。【構成】 コルポスコープ2で患部3の表面の像を肉眼観察可能であると共に、TVカメラ5を介してモニタ7に表面観察像を表示する。また、SLD31で発生した低干渉性の光は光ファイバ33aで伝送され、走査部21からコルポスコープ2の光学系を介して患部3側に出射される。ミラー55を移動して光路長を変化することにより、患部3の深さ方向の断層像を得て、スーパインポーズ回路18を介してモニタ7に出力し、表面観察像と共に、断層像を表示可能な構成にしている。

Claim (excerpt)：

照明光を出射する照明光出射手段と、照明光で照明された被検体表面の像を結ぶ対物光学系と、前記対物光学系に基づく像を光電変換する撮像素子とを備えた撮像手段と、低干渉性光を発生する低干渉性光発生手段と、前記撮像手段内に前記低干渉性光を導光し、前記撮像手段内に先端側の端面から被検体側に前記低干渉性光を出射すると共に、被検体側で反射された反射光を導光する導光部材と、前記導光部材で導光した反射光と前記低干渉性光から生成した基準光とを干渉させて、干渉した干渉光に対応する干渉信号を抽出する干渉光抽出手段と、前記基準光側又は反射光側の光路長を変化させる光路長変化手段と、前記干渉信号に対する信号処理を行い、前記被検体の深さ方向の断層像とを構築する信号処理手段と、前記撮像素子で撮像された撮像画像と前記断層像とを同時に表示する表示手段と、を有することを特徴とする光断層イメージング装置。

IPC (3)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/27