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J-GLOBAL ID:200903013709017861
光測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
河野 登夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999313105
Publication number (International publication number):2001133394
Application date: Nov. 02, 1999
Publication date: May. 18, 2001
Summary:
【要約】【課題】 複数の被測定物の測定間隔を長くすることなく、異なる品種の被測定物の状態を高精度に測定することができる光測定装置を提供する。【解決手段】 投光器4に給電する可変定電圧電源回路8には切り換えツマミが付設してあり、該切り換えツマミを操作することによって、可変定電圧電源回路8から投光器4に印加される電圧を段階的に変更する。投光器4はハロゲンランプを内蔵しており、可変定電圧電源回路8から高い電圧が印加された場合、高強度の光を被測定物Hに照射し、可変定電圧電源回路8から低い電圧が印加された場合、低強度の光を被測定物Hに照射する。これによって、異なる品種の被測定物Hの糖度を測定する場合であっても、受光器5には略同じ強度の透過光が入射されるため、コンベア10による被測定物Hの搬送速度を低減することなく、被測定物Hの糖度を高精度に測定することができる。
Claim (excerpt):
被測定物に投光する投光器(4)と、該投光器(4)が被測定物へ投光し、該被測定物を透過した光が入射する受光器(5)とを備え、該受光器(5)に入射された光の強度に基づいて前記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器(4)に異なる電圧を印加することが可能な可変電圧電源回路(8)を備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (3):
G01N 21/01
, G01N 21/27
, G01N 33/02
FI (3):
G01N 21/01 D
, G01N 21/27 Z
, G01N 33/02
F-Term (17):
2G059AA01
, 2G059BB11
, 2G059CC20
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059FF08
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ17
, 2G059JJ25
, 2G059KK01
, 2G059KK10
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM10
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