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J-GLOBAL ID:200903013717917774

構造物の変位測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 木村 高久 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000368557
Publication number (International publication number):2002168626
Application date: Dec. 04, 2000
Publication date: Jun. 14, 2002
Summary:
【要約】【課題】 電磁波測距儀における位相差測定法の原理を用いて測定対象の構造物の変位を高精度に測定することができる構造物の変位測定装置を提供すること。【解決手段】 位相差測定回路215から出力される出力信号(直流信号)のSinφn又はSin(φn-φ0)が0(ゼロ)になるように変調周波数fnが調整される。その後、ターゲットTGが変位したときに、位相差測定回路215は、Sinφn又はSin(φn-φ0)の位相差φnを求めて、この位相差と変調周波数fnに対応する波長λnとに基づいて変位を求める(△d=(△φn/4π)・λn)。
Claim (excerpt):
変調周波数の信号に従って対象構造物に向けて光を出射する光出射手段と、前記対象構造物に反射された光を検出する光検出手段とを含む光学系を有し、光波測距儀における位相差測定法の原理を用いて前記対象構造物の変位を測定する構造物の変位測定装置であって、所定の変調周波数の信号を発振すると共に、当該変調周波数の値を変更可能な周波数可変発振手段と、前記光検出手段によって検出された光に対応する検出信号に対してビートダウン処理及び高周波成分の信号の除去処理が施されたことにより得られた信号から、振動成分の信号を除去することにより、Sinφn(φn=位相差)で示される直流信号を生成する生成手段と、前記Sinφn=0の関係が成立する所定の変調周波数の信号を発振するように前記周波数可変発振手段を制御する制御手段と、前記Sinφnで示される直流信号の位相差φnと前記所定の変調周波数に対応する波長λnとに基づいて前記対象構造物の変位を求める変位求め手段とを具備したことを特徴とする構造物の変位測定装置。
IPC (4):
G01C 15/00 103 ,  G01C 15/00 104 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06
FI (4):
G01C 15/00 103 D ,  G01C 15/00 104 A ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 Z
F-Term (20):
2F065AA09 ,  2F065FF13 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL30 ,  2F065NN06 ,  2F065NN08 ,  2F065PP21 ,  2F065QQ03 ,  2F065UU05 ,  2F112AD10 ,  2F112BA06 ,  2F112CA06 ,  2F112DA09 ,  2F112DA13 ,  2F112DA26 ,  2F112DA32 ,  2F112FA01 ,  2F112FA12 ,  2F112FA32

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