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J-GLOBAL ID：200903013751691572

画像欠陥検出方法及び装置

Inventor： 鎌田 照己
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996205132
Publication number (International publication number)：1998048149
Application date： Aug. 02, 1996
Publication date： Feb. 20, 1998
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、CCD等の画像入力デバイスを用いて取得した被検査製品の2次元の画像データを周波数変換して、その製品の良否判別(欠陥検査)を行なうことができる欠陥検査方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】 一様な被検物の表面画像を入力し、多階調の画像データを処理し被検物の特異部分の検出を行なう画像欠陥検出方法において、画像を適当な領域に分割し、その領域において2次元の周波数変換を行ない、その変換係数により画像の特徴量を算出することによって画像の特異部分を検出する。

Claim (excerpt)：

一様な被検物の表面画像を入力し、多階調の画像データを処理し被検物の特異部分の検出を行なう画像欠陥検出方法において、画像を適当な領域に分割し、その領域において2次元の周波数変換を行ない、その変換係数により画像の特徴量を算出することによって画像の特異部分を検出することを特徴とする画像欠陥検出方法。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  H04N 1/40

FI (3)：

G01N 21/88 J ,  G06F 15/62 400 ,  H04N 1/40 Z