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J-GLOBAL ID：200903013794409854
超音波診断装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
吉田 研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993150325
Publication number (International publication number)：1995008485
Application date： Jun. 22, 1993
Publication date： Jan. 13, 1995
Summary：
【要約】【目的】 組織表面の凹凸形状を高分解能で測定する。【構成】 表面抽出回路18は受信信号から組織表面に相当する受信信号を抽出する。位相変移検出回路20は、隣接する超音波ビーム相互間の受信信号の位相差(位相変移)を求める。表面形状演算回路22は、求められた位相変移から組織表面の凹凸形状を演算する。
Claim (excerpt)：
超音波ビームを走査して走査方向に沿う生体内組織表面の形状に関する情報を得る超音波診断装置であって、超音波の送受波により得られた受信信号から組織表面に相当する表面受信信号を抽出する表面抽出手段と、隣接する超音波ビーム相互間において前記表面受信信号の位相変移を検出する位相変移検出手段と、を含み、前記組織表面の形状情報を受信信号の位相変移により求めることを特徴とする超音波診断装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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