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J-GLOBAL ID：200903013823951590

プロセス異常原因推定方式

Inventor： 寺崎 富雄 ,  金野 聡
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 大菅 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993105479
Publication number (International publication number)：1994314199
Application date： May. 06, 1993
Publication date： Nov. 08, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 水処理プラント、化学プラント等において、プロセス異常原因を適確に推定する。【構成】 診断対象プロセス内の状態を幾つかの情報項目で表し、各情報項目に対応する測定値等を異常と判断するための条件をあらかじめ設定しておく。異常原因推定時に、総ての異常原因候補となり得る情報項目について、異常を引き起こす原因であるとの仮定をして、その結果に至る幾つかの経路の連鎖が成立するか否かを、それぞれの情報項目の状態を照合しながら検索してゆき、幾つかの経路の連鎖が形成する全体の経路が、異常を示している情報項目の総てに到達するという条件を満足する前記異常原因と仮定した情報項目を、異常原因の候補と推定する。また、各情報項目のうち、その情報を示す情報が得られない情報項目については、前記仮定した異常原因からその結果の連鎖が途切れないように情報項目の状態をある状態に仮定する。

Claim (excerpt)：

診断対象プロセス内の状態を幾つかの情報項目で表し、各情報項目に対応するプロセスから得られるデータの幾つかが異常値となった場合に、その異常状態を引き起こした原因となっている情報項目を推定するプロセス異常原因推定方式において、前記各情報項目のそれぞれについて、当該情報項目が異常となったときに、その結果として引き起こされる情報項目の異常状態をあらかじめ設定しておくとともに、前記情報項目のそれぞれについて、当該情報項目の異常を引き起こす原因となりうる情報項目の異常状態をあらかじめ設定しておき、さらに、前記情報項目のそれぞれについて、各情報項目に対応する測定値などを異常と判断するための条件をあらかじめ設定し、異常原因推定時に各情報項目の状態を調べ、総ての異常原因候補となり得る情報項目について、順次その情報項目が異常を引き起こす原因であるとの仮定をして、その仮定した異常原因からその結果に至る幾つかの経路の連鎖が成立するか否かを、それぞれの情報項目の状態を照合しながら検索して行き、前記仮定した異常原因からその結果に至る幾つかの経路の連鎖が形成する全体の経路が、異常を示している情報項目の総てに行き渡るという条件を満足する前記異常原因と仮定した情報項目を、異常原因の候補と推定することを特徴とするプロセス異常原因推定方式。

IPC (4)：

G06F 9/44 330 ,  G01D 21/00 ,  G05B 23/02 302 ,  G06F 9/06 430