Pat

J-GLOBAL ID：200903013978777406

外観検査装置及び三次元計測装置

Inventor： 間宮 高弘 ,  二村 伊久雄 ,  石垣 裕之
Applicant, Patent owner： シーケーディ株式会社
Agent (1)： 川口 光男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002367277
Publication number (International publication number)：2004198263
Application date： Dec. 18, 2002
Publication date： Jul. 15, 2004
Summary：

【課題】コストの増大及び構造上の複雑化を防止することができ、しかも、高速に検査又は計測を行うことを可能とする。【解決手段】三次元計測装置1は、プリント基板Kの表面に対し斜め上方から所定の光成分パターンを照射するための照射手段3と、プリント基板K上の照射された部分を撮像するための撮像手段4と、撮像手段4により撮像された撮像データに基づき種々の演算を実行するための画像処理手段を有する制御装置7とを具備する。撮像手段4による撮像視野を一定とし、プリント基板K上のクリームハンダの微細の程度が荒いときには、微細の程度が細かい場合に比べて、画像処理手段へ転送される画像データ及び画像処理手段にて行われる演算量が少なくなるよう構成されている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

検査対象物の表面部分を撮像可能な撮像手段と、 前記撮像手段にて撮像された画像データの転送を許容し、当該転送された画像データに基づいて所定の演算を行う画像処理手段と を備え、前記画像処理手段の演算結果に基づいて検査対象物の良否判定を行うよう構成されてなる外観検査装置であって、 前記撮像手段による撮像視野を一定とし、前記検査対象物の微細の程度に応じて前記画像処理手段が行う演算量を異ならせたことを特徴とする外観検査装置。

IPC (6)：

G01B11/24 ,  G01B11/25 ,  G01N21/956 ,  G06T1/00 ,  G06T3/40 ,  H04N1/387

FI (6)：

G01B11/24 K ,  G01N21/956 B ,  G06T1/00 305A ,  G06T3/40 D ,  H04N1/387 101 ,  G01B11/24 E

F-Term (28)：

2F065AA24 ,  2F065AA54 ,  2F065CC26 ,  2F065DD06 ,  2F065FF07 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL20 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ31 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051DA05 ,  2G051EA12 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA11 ,  5B057CD07 ,  5B057DA03 ,  5B057DB03 ,  5C076AA22 ,  5C076BA06 ,  5C076BB06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 車両用距離測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-213100   Applicant：本田技研工業株式会社