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J-GLOBAL ID：200903013999039910
機器の異常監視方法および装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993068347
Publication number (International publication number)：1994281547
Application date： Mar. 26, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：
【要約】【目的】 複数の計測信号を回帰分析して監視対象機器の異常を高精度に検出する。【構成】 検出器1,2によって検出された2種類の計測信号を、応答特性補正器3によって、監視対象機器の状態変化に対して見かけ上同一の応答をするように補正する。回帰分析演算部4では、応答補正された2種類の計測信号に回帰分析を適用し、回帰係数と相関係数を算出する。算出した相関係数の絶対値が、予め設定したしきい値を超えるか否か判断し、相関係数がしきい値を超えた場合にのみ回帰係数を有意とみなし、回帰係数を監視パラメ-タ5として扱う。異常判断部6は、監視パラメ-タ5が所定の正常範囲内であるか否かを判断し、所定の正常範囲から逸脱した場合に異常が発生したと判断し、異常報知部7が異常の発生を報知する。
Claim (excerpt)：
監視対象機器の複数種類の特性を検出し各特性に応じた複数種類の計測信号を取り込み、各計測信号の応答特性の違いを補正し、補正した2種類の計測信号を回帰分析して回帰係数および相関係数を算出し、算出した相関係数から回帰係数の有意性を評価し、回帰係数が有意である場合には回帰係数を監視パラメ-タとし、該監視パラメ-タが所定の正常範囲内にあるか否かを監視して所定の正常範囲から逸脱したとき監視対象機器に異常が発生したと判定することを特徴とする機器の異常監視方法。
IPC (2)：
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