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J-GLOBAL ID：200903014133091030

回路基板の欠品検査用プローブ及びそれを使用した回路基板の欠品検査装置

Inventor： 島野 守弘
Applicant, Patent owner： 島野 守弘
Agent (1)： 杉本 良夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997154572
Publication number (International publication number)：1998332767
Application date： May. 28, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：

【要約】【課題】 回路基板の欠品検査において、低コストで、しかも必要な箇所の欠品検査のみを有効に行うことが可能な回路基板の欠品検査用プローブ及びそれを使用した回路基板の欠品検査装置を提供すること。【解決手段】 検査用プローブは、管状のハウジングと、該ハウジングの長手方向へ可動自在に前記ハウジング内に挿入保持されたシャフトとにより構成され、前記シャフトは、先端部分が絶縁されているとともに、下側部分にスイッチ部を備え、通常の状態においては前記スイッチ部が前記ハウジングに接触しており、前記シャフトを下側に移動させると前記スイッチ部と前記ハウジングとの接触が解除されることを特徴とし、それを使用する検査装置は、治具ボードと治具ボード上に配置された検査用プローブと装置本体とを備え、プローブを配置する治具ボードを導電体により構成したことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

管状のハウジング(6)と、該ハウジング(6)の長手方向へ可動自在に前記ハウジング(6)内に挿入保持されたシャフト(7)とにより構成され、前記シャフト(7)は、先端部分が絶縁されているとともに、下側部分にスイッチ部(10)を備え、通常の状態においては前記スイッチ部(10)が前記ハウジング(6)に接触しており、前記シャフト(7)を下側に移動させると前記スイッチ部(10)と前記ハウジング(6)との接触が解除されることを特徴とする回路基板の欠品検査用プローブ。

IPC (4)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28 ,  H05K 13/08

FI (4)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 E ,  H05K 13/08 B ,  G01R 31/28 K