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J-GLOBAL ID：200903014161381213

波長分散測定装置及びその方法

Inventor： 衣袋 貞雄 ,  石川 丈二
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 大菅 義之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000240594
Publication number (International publication number)：2002055025
Application date： Aug. 09, 2000
Publication date： Feb. 20, 2002
Summary：

【要約】【課題】部品点数が少なく、光SNRの問題を生じない波長分散測定装置を提供する。【解決手段】周波数f1 の高周波に、周波数fm の低周波を重畳し、周波数fsの光を変調して、波長分散測定光として伝送路24に送出する。受信側で、波長分散測定光に局部発振光を合波し、ヘテロダイン検波する。ヘテロダイン検波した波長分散測定光の内、周波数fs を変調したことによって生じたサイドバンドをバンドパスフィルタ28-1、28-2で抽出し、これらの位相差を検出することによって、伝送路24の波長分散値を算出する。

Claim (excerpt)：

光源から出力される光を変調する変調手段と、該変調された光を波長分散測定光として伝送路に送出する送出手段と、該伝送路を伝搬した変調光を受光する受光手段と、該受光された変調光から、変調光のサイドバンド信号を抽出するフィルタ手段と、該サイドバンド信号の異なる周波数帯成分の位相差を検出する位相差検出手段と、を備え、該位相差から該伝送路の波長分散値を算出することを特徴とする波長分散測定装置。

IPC (3)：

G01M 11/02 ,  G01J 9/04 ,  G02F 2/00

FI (3)：

G01M 11/02 K ,  G01J 9/04 ,  G02F 2/00

F-Term (2)：

2K002AA04 ,  2K002AB19

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 光ファイバの波長分散測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-096618   Applicant：アンリツ株式会社