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J-GLOBAL ID：200903014173000770

X線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、X線診断装置

Inventor：
青木 邦夫

About 青木 邦夫

, 
高橋 章仁

About 高橋 章仁


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002043485
Publication number (International publication number)：2003244540
Application date： Feb. 20, 2002
Publication date： Aug. 29, 2003
Summary：
【要約】【課題】動作パラメータなどの設定を自動化して作業時間の短縮、入力ミスや設定ミスの低減を図ること。【解決手段】X線平面検出器2から出力されるべき画素値の期待値の基準レベル範囲を与え、X線を曝射したときのX線画像の画素値と画素値の期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較結果に基づいて動作パラメータを期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定し、かつX線平面検出器12のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数や、ゲイン補正係数、欠陥点の位置情報を自動的に決定する。
Claim (excerpt)：
X線平面検出器を動作させるための動作パラメータを調整するX線平面検出器のパラメータ調整方法において、前記X線平面検出器から出力される画素値の期待値の基準レベル範囲及びX線画像の収集タイミングを与える工程と、前記X線を曝射したときに前記収集タイミングで前記X線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素値と前記期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定する工程と、を有することを特徴とするX線平面検出器のパラメータ調整方法。
IPC (4)：
H04N 5/32 ,  A61B 6/00 ,  A61B 6/00 300 ,  G01T 7/00
FI (4)：
H04N 5/32 ,  A61B 6/00 300 M ,  G01T 7/00 C ,  A61B 6/00 350 Z
F-Term (30)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088LL17 ,  2G088LL27 ,  4C093AA01 ,  4C093CA15 ,  4C093CA17 ,  4C093CA18 ,  4C093CA36 ,  4C093EB17 ,  4C093FA34 ,  4C093FA43 ,  4C093FC04 ,  4C093FC16 ,  4C093FC18 ,  4C093FC19 ,  4C093FD11 ,  4C093FD12 ,  4C093FD13 ,  4C093GA06 ,  4C093GA07 ,  5C024AX12 ,  5C024BX00 ,  5C024CX00 ,  5C024CX22 ,  5C024GZ00 ,  5C024HX00 ,  5C024HX18
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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