Pat
J-GLOBAL ID:200903014187360974

多変量解析システムおよび発現プロファイル解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 原 謙三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002055017
Publication number (International publication number):2003256407
Application date: Feb. 28, 2002
Publication date: Sep. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】 特に網羅的な発現プロファイル解析に代表される多変量解析において、偏り誤差の影響と、変量が0近傍となるデータの影響とを有効に軽減し、確実な解析ができる多変量解析システム、およびコンピュータにて実現可能な発現プロファイル解析方法とを提供する。【解決手段】 画像読取部11から入力された第1データおよび第2データからなる解析用変量を、変量補正部31にて分類基準値に基づいて分類する。補正変量算出部32では、分類された解析用変量を用いて、第1データおよび第2データの対数比と補正項との差を補正変量として算出し、変量解析部23で解析する。さらに、上記補正変量から相関係数を算出して、実験系の間の相関関係を解析に利用しても良い。
Claim (excerpt):
母集団を構成する複数の要素のそれぞれから、実験により、第1データとその対照である第2データとの組み合わせからなる解析用変量を得た上で、これら各データの比を用いて、多変量解析を実施する多変量解析システムにおいて、上記解析用変量の変化範囲のうち、信頼性の低い範囲から高い範囲に移行する閾値を分類基準値として用い、上記要素毎に複数得られた上記解析用変量を上記分類基準値に基づいて分類する変量分類手段と、該変量分類手段で分類された上記解析用変量のうち、信頼性の高い範囲に分類された高信頼性変量のみを用いて、該高信頼性変量を構成する第1データおよび第2データの対数比を算出するとともに、全ての高信頼性変量の対数比に対する補正項を算出し、さらに、上記対数比と補正項との差を補正変量として算出する補正変量算出手段とを備えていることを特徴とする多変量解析システム。
IPC (7):
G06F 17/15 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/53 ,  G01N 37/00 102 ,  G06F 17/18 ,  G06F 17/30 170 ,  C12N 15/09
FI (7):
G06F 17/15 ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/53 M ,  G01N 37/00 102 ,  G06F 17/18 Z ,  G06F 17/30 170 F ,  C12N 15/00 F
F-Term (19):
4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA04 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B063QA08 ,  4B063QA13 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR56 ,  4B063QS32 ,  5B056BB22 ,  5B056BB36 ,  5B056BB42 ,  5B056BB62 ,  5B056BB64 ,  5B075ND34 ,  5B075NR12 ,  5B075UU40
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page