Pat
J-GLOBAL ID:200903014241085011
レーザ光による加工方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐々木 宗治 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999047434
Publication number (International publication number):2000246475
Application date: Feb. 25, 1999
Publication date: Sep. 12, 2000
Summary:
【要約】【課題】 貫通孔が曲がって歪んでしまうように事態を発生させずに、加工精度を向上させることを可能にしたレーザ光による加工方法を提供する。【解決手段】 シリコン単結晶基板10に円偏光又はランダム偏光したレーザ光を照射する。これにより加工穴が真っ直ぐなものとなり、加工精度が向上する。
Claim (excerpt):
基材に円偏光したレーザ光を照射することを特徴とするレーザ光による加工方法。
IPC (5):
B23K 26/00 330
, B41J 2/135
, H01L 21/302
, H01L 21/3205
, B23K101:40
FI (4):
B23K 26/00 330
, B41J 3/04 103 N
, H01L 21/302 Z
, H01L 21/88 J
F-Term (43):
2C057AF93
, 2C057AG88
, 2C057AG90
, 2C057AP02
, 2C057AP13
, 2C057AP23
, 2C057AP34
, 2C057AQ02
, 2C057BA04
, 2C057BA14
, 4E068AF01
, 4E068AF02
, 4E068CB10
, 4E068CG05
, 4E068DA00
, 4E068DA10
, 4E068DB02
, 4E068DB13
, 5F004AA09
, 5F004BA04
, 5F004BA20
, 5F004DA16
, 5F004DB01
, 5F004DB03
, 5F004DB32
, 5F004EA10
, 5F004EA37
, 5F004EB02
, 5F033HH08
, 5F033HH11
, 5F033JJ11
, 5F033KK11
, 5F033MM30
, 5F033NN30
, 5F033NN40
, 5F033PP28
, 5F033QQ13
, 5F033QQ16
, 5F033QQ37
, 5F033QQ53
, 5F033RR04
, 5F033SS07
, 5F033SS11
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