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J-GLOBAL ID：200903014265459443

塗膜の隠蔽膜厚を推定する方法

Inventor： 片山 治 ,  石村 一茂 ,  久保 信明
Applicant, Patent owner： 日本ペイント株式会社
Agent (2)： 河宮 治 ,  鮫島 睦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005034577
Publication number (International publication number)：2006220554
Application date： Feb. 10, 2005
Publication date： Aug. 24, 2006
Summary：

【課題】 目視測定を行わずに隠蔽膜厚を得ること。【解決手段】 本発明は、(i)白色被塗物および黒色被塗物の分光反射率を測定する工程、(ii)塗料を前記被塗物に塗布して塗膜を形成する工程、(iii)白色被塗物および黒色被塗物を下地にした塗膜の分光反射率を測定する工程、(iv)塗膜の膜厚を測定する工程、(v)工程(iv)で得られる膜厚ならびに工程(i)および(iii)で得られる分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地にした任意の膜厚(Xi=1,2,3...)を有する塗膜の分光反射率をアルゴリズムを用いて求める工程、ならびに(vi)工程(v)で得られる任意の膜厚を有する塗膜の分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地とする任意の膜厚の塗膜の色差ΔEを求める工程を含んで成り、色差ΔEと任意の膜厚との相関関係から隠蔽膜厚を推定することを特徴とする方法を提供する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

塗膜の隠蔽膜厚を推定する方法であって、 (i)白色被塗物および黒色被塗物の分光反射率を測定する工程、 (ii)塗料を白色被塗物および黒色被塗物に塗布して塗膜を形成する工程、 (iii)白色被塗物および黒色被塗物を下地にした塗膜の分光反射率を測定する工程、 (iv)塗膜の膜厚を測定する工程、 (v)工程(iv)で得られる膜厚ならびに工程(i)および(iii)で得られる分光反射率から、白色被塗物および黒色被塗物を下地にした任意の膜厚(Xi=1,2,3...)を有する塗膜の分光反射率をアルゴリズムを用いて求める工程、ならびに

IPC (1)：

G01B 11/06

FI (1)：

G01B11/06 Z

F-Term (8)：

2F065AA30 ,  2F065CC31 ,  2F065FF41 ,  2F065FF46 ,  2F065LL67 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ41