Pat
J-GLOBAL ID：200903014294713405
X線検査装置、断層画像異常表示装置、X線検査方法、断層画像異常表示方法、プログラム、および記録媒体
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松田 正道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005367168
Publication number (International publication number)：2007170926
Application date： Dec. 20, 2005
Publication date： Jul. 05, 2007
Summary：
【課題】断層画像を利用して異常を表示する装置の価格が上昇してしまうという課題があった。【解決手段】回路形成体203を保持する回路形成体回転機構202と、回路形成体203にX線を照射するX線発生手段201と、回路形成体203を透過してきたX線を検出するX線検出手段204と、X線を利用して、回路形成体203の透過画像を作成し、あらかじめ用意された、良品の透過画像と、回路形成体203の透過画像とを比較し、比較の結果に応じて、回路形成体203における異常の有無を判定し、良品の透過画像を含む、その枚数よりも多い枚数の作成された良品の透過画像のセットを利用して、良品の断層画像を作成する制御コンピュータ208と、異常が有ると判定された場合には、回路形成体203の異常が有る透過画像に対応する良品の透過画像に基づいて決まる断層画像の部位に、異常を表示する表示手段209とを備えた、X線CT装置301である。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被検査物を保持する被検査物保持手段と、
前記保持された被検査物にX線を照射するX線照射手段と、
前記照射され前記被検査物を透過してきたX線を検出するX線検出手段と、
前記検出されたX線を利用して、前記被検査物の透過画像を作成する透過画像作成手段と、
あらかじめ用意された、異常がない基準物の透過画像と、前記被検査物の透過画像とを比較する透過画像比較手段と、
前記比較の結果に応じて、前記被検査物における異常の有無を判定する異常有無判定手段とを備えた、X線検査装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (25)：
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001CA10
, 2G001DA01
, 2G001DA09
, 2G001FA01
, 2G001FA02
, 2G001FA06
, 2G001FA16
, 2G001GA03
, 2G001GA08
, 2G001GA13
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001JA01
, 2G001JA07
, 2G001JA12
, 2G001JA13
, 2G001KA03
, 2G001LA11
, 2G001MA05
, 2G001PA12
, 2G001QA01
