Pat
J-GLOBAL ID:200903014347535830
材料の風化相関の特性把握のための方法と装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
福島 三雄
, 小山 方宜
, 向江 正幸
, 面谷 和範
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004351871
Publication number (International publication number):2005164598
Application date: Dec. 03, 2004
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】 材料の風化相関の特性把握するためのアッセンブリー。【解決手段】 材料から形成された試験片に太陽熱放射を集光集熱するのに使用されるタイプの自然促進耐候性試験装置の配列を含む。それぞれの自然促進される風化および試験装置は試験片を所望の温度で維持するための温度制御システムを含んでいる。自然促進耐候性試験装置の複数のセットが配列内で定義されまた試験片は異なる太陽熱放射強度に暴露される。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
材料から形成された試験片に太陽熱放射を集光集熱するのに使用されるタイプの自然促進耐候性試験装置の配列と、
試験片を所望の温度で維持するための温度制御システムを含んでいる各自然促進耐候性試験装置と、
配列内で定義された自然促進耐候性試験装置の複数のセットを備え、
各セット内の試験片が異なる太陽熱放射強度に暴露されることを特徴とする材料の風化相関を特性決定するためのアッセンブリー。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (10):
2G050AA02
, 2G050AA04
, 2G050BA09
, 2G050BA10
, 2G050CA02
, 2G050DA03
, 2G050EA01
, 2G050EA03
, 2G050EC01
, 2G050EC03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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米国特許番号3,664,188公報
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米国特許番号2,945,417公報
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米国特許番号4,807,247公報
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