Pat
J-GLOBAL ID：200903014349520997
画像パターン傾き検出方法
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993011303
Publication number (International publication number)：1994223184
Application date： Jan. 27, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 任意の矩形の認識対象物に対して正確な傾きを測定することができる画像パターン傾き検出方法を提供する。【構成】 2次元画像の中から画像パターンを探索するステップ#1と、画像パターン内部の適当な1点を基準点として定めるステップ#2と、画像パターンの境界点を求めるステップ#3と、基準点から境界点までの方位と距離より方位-距離グラフを作成するステップ#4と、方位-距離グラフより画像パターンの傾きを求めるステップ#5を有する画像パターン傾き検出方法。従って、認識対象物の画像パターンから一意に決まる方位-距離グラフの特徴より画像パターンの傾きを求めるため、任意の矩形の認識対象物に対して傾きを正確に測定することができ、さらに、適当に定めた基準点と、画像の明るさムラや背景ノイズの影響を受けにくい境界点の情報のみを用いるので、画像状態に影響されない安定した画像パターン認識が可能となる。
Claim (excerpt)：
所定の手段により得た2次元画像の中から認識対象物の画像パターンを探索する第1工程と、前工程の探索で得られた画像パターンの内部の適当な1点を基準点として定める第2工程と、所定の走査方法によって2次元画像を走査し画像パターンと背景画像との境界点を求める第3工程と、基準点から前工程で得られた境界点までの方位と距離を求め、方位-距離グラフを作成する第4工程と、得られた方位-距離グラフの形状の特徴より画像パターンの傾きを求め、認識対象物の傾きとする第5工程を備えたことを特徴とする画像パターン傾き検出方法。
IPC (3)：
G06F 15/70 350
, G01B 11/26
, G06F 15/62 405
Cited by examiner (6)
Show all
Return to Previous Page
