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J-GLOBAL ID：200903014352582308
電磁波妨害排除能力測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井上 清子 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991159923
Publication number (International publication number)：1993005763
Application date： Jun. 05, 1991
Publication date： Jan. 14, 1993
Summary：
【要約】【目的】 全方向からの電磁波から受ける電子機器の妨害排除能力を測定する装置を提供すること。【構成】 被測定物を収容するTEMセル内にてフアンを回転させて、このTEMセル内に送られる電磁波を攪乱させる。
Claim (excerpt)：
内部に電子機器等の被測定物を収容でき、高周波電力を加えると内部に電界を発生するようにしたTEMセルと、該TEMセルに高周波電力の信号を送って電界を発生させる信号発生器と、上記TEMセル内に設けられて電界を攪拌して全方向に向けるフアンを具備する電磁波妨害排除能力測定装置。
IPC (2)：
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