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J-GLOBAL ID:200903014493414158

塗面の艶測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 福留 正治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993192877
Publication number (International publication number):1995027704
Application date: Jul. 07, 1993
Publication date: Jan. 31, 1995
Summary:
【要約】【目的】 製造工程における塗面の艶の変動因子である表面粗さを簡単な装置構成でオプトエレクトロ式に測定可能する。【構成】 塗面15の艶を左右する凹凸波長に応じて、平行格子像の反射光の拡散度合を変化させ得る1〜5mm程度のスリット幅を有する平行格子光源10により、30〜60cm程度の距離から塗面15に平行格子13を写像させる。平行格子光源10の側部に配置されたCCDカメラ16で塗面15をピントを合せて撮像することにより、平行格子像とほぼ直交方向の格子画像信号を検出し、この格子画像信号波形の傾斜度合から塗面の艶を判定する。
Claim (excerpt):
塗面の艶を左右する凹凸波長に応じて、平行格子像の反射光の拡散度合を変化させ得る1〜5mm程度のスリット幅を有する平行格子光源により、30〜60cm程度の距離から塗面に平行格子を写像させ、前記平行格子光源の側部に配置されたイメージセンサで前記塗面をピントを合せて撮像することにより、前記平行格子像とほぼ直交方向の格子画像信号を検出し、この格子画像信号波形の傾斜度合から前記塗面の艶を判定することを特徴とする塗面の艶測定方法。
IPC (2):
G01N 21/57 ,  G01B 11/30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭61-075237
  • 特開昭50-153979
  • 特開昭61-075236

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