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J-GLOBAL ID：200903014502904562

アレイ超音波探傷方法及びその装置

Inventor： 増田 智紀 ,  伊藤 一博
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社
Agent (1)： 大橋 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995010277
Publication number (International publication number)：1996201359
Application date： Jan. 26, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 微細なきずの位置と大きさ、形状を高精度で測定する。【構成】 アレイ超音波振動子2...を駆動して得た振動子2...毎の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算或いは実験により求めて記憶装置5に記憶しておいた受信位相又は受信位相差の分布とをパターンマッチング計算器6によりパターンマッチングして反射体の形状及びサイズを推定する。

Claim (excerpt)：

アレイ超音波探傷において、複数のアレイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておいた位相又は位相差の分布とをパターンマッチングすることにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音波探傷方法。

IPC (3)：

G01N 29/22 504 ,  G01B 17/00 ,  G01N 29/10 501

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭56-162046
  
• 特開昭63-061948
  
• 特表昭60-501774