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J-GLOBAL ID：200903014506267192
被測定材料の変形を検出する装置及び方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
八木田 茂 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995105846
Publication number (International publication number)：1996054343
Application date： Apr. 28, 1995
Publication date： Feb. 27, 1996
Summary：
【要約】【目的】 光ファイバーを利用した被測定材料の変形を検出する装置及び方法を提供すること。【構成】 本発明は材料内変形の検知を可能にするために光ファイバー伝送路の変形特性を利用する装置及び方法に関するものであり、前記光ファイバーは光ファイバーの伝送路内にある材料の内部の各分離した変形が前記光ファイバーの長さに沿った対応する別々の測定可能な変形に帰着するように材料との関連で配置されている。
Claim (excerpt)：
被測定材料の内部に光学的伝送路を画定する少なくとも一つの光ファイバを有し、前記少なくとも一つの光ファイバを、光学的時間領域反射率計に接続できるようし、かつ、被測定材料の変形に対応して光学的伝送路が変形するように被測定材料の内部に配置し、被測定材料の変形に対応した光学的伝送路の変形位置を光学的時間領域反射率計によって測定できるようにしたことを特徴とする被測定材料の変形を検出する装置。
IPC (3)：
G01N 21/84
, G01B 11/24
, G01N 21/47
