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J-GLOBAL ID：200903014587487698
試験試料カードのきめ出し表面及びその製造鋳型
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998256558
Publication number (International publication number)：1999192624
Application date： Sep. 10, 1998
Publication date： Jul. 21, 1999
Summary：
【要約】【課題】 カード表面から粘着膜が剥離することなく、長時間にわたるインキュベーションに十分耐えることが可能な試験試料カードを提供する。【解決手段】 放電機械加工(EDM)プロセスによって機械加工され、生じた緻密なきめ出し表面が損なわれずに残された鋳型を用いて、試験試料カードを製造する。この鋳型は、均一な緻密な生地を伴う表面を有する試験試料カードを生成する。この表面はカード表面への膜の接着性を改善する。
Claim (excerpt)：
少なくとも1つの試料ウェルと、前記少なくとも1つの試料ウェルに隣接するカード表面とを有して、前記カード表面に前記試料ウェルを覆うための粘着膜が貼付されている試験試料カードであって、前記試験試料カードが、前記少なくとも1つの試料ウェルに隣接する前記カード表面において緻密なきめ出し表面を有して、前記粘着膜の前記カード表面への接着性を改善するようにしたことを特徴とする試験試料カード。
IPC (2)：
FI (2)：
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