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J-GLOBAL ID:200903014654485182

画像診断支援装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 浩三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001352693
Publication number (International publication number):2002325762
Application date: Nov. 19, 2001
Publication date: Nov. 12, 2002
Summary:
【要約】【課題】 多値化された陰影であって、血管の分岐部分や病巣陰影にひげ状の血管が結合しているものなどについて切断処理を効率的に行なえるようにする。陰影の持つ特徴を利用し、異常陰影の候補検出率の高い検出処理を行なえるようにする。【解決手段】 多値化手段によって医用画像を多値化し、その多値化画像に基づいて陰影の中心座標などを求め、その中心座標を基準にして医用画像や多値化画像に種々の画像処理を施して病巣候補と思われものを判別すようにした。例えば、多値化画像の陰影の縁を基準に、その内外2個所における実際の医用画像又は判別対象用画像の陰影の濃度差すなわち画素値の差分値を求めることによって、その陰影が病巣候補陰影であるかそうでないかを判別する。切断円形の半径に対象孤立領域の属性を反映させるようにした。すなわち、陰影の動径最小値に基づいて切断円形の半径を決定し、切断処理を行なう。
Claim (excerpt):
医用画像又は前記医用画像の中から判別対象となる陰影の種類に応じた画素値範囲に属する画素だけを抽出して作成された判別対象医用画像に対して所定の画像処理を施して多値化画像を作成する多値化手段と、前記多値化画像に基づいて陰影の中心又は重心を検出し、前記陰影の中心又は重心付近を基準点とする所定長の半径を前記多値化画像、前記医用画像又は前記判別対象用医用画像中の陰影上で回転させて、前記半径と前記多値化画像の縁との交点を基準にして前記多値化画像の内外に所定距離だけ離れた少なくとも2個所における前記医用画像又は前記判別対象用医用画像中の陰影の画素値をサンプリングし、前記2個所の画素値の差分値に基づいて前記陰影が病巣候補陰影であるか否かを判別する抽出手段とを備えたことを特徴とする画像診断支援装置。
IPC (6):
A61B 6/03 360 ,  A61B 5/055 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 7/00 200 ,  G06T 7/00 300 ,  G06T 7/60 150
FI (6):
A61B 6/03 360 D ,  G06T 1/00 290 B ,  G06T 7/00 200 Z ,  G06T 7/00 300 H ,  G06T 7/60 150 C ,  A61B 5/05 380
F-Term (56):
4C093AA22 ,  4C093AA26 ,  4C093CA21 ,  4C093CA31 ,  4C093FF08 ,  4C093FF09 ,  4C093FF12 ,  4C093FF16 ,  4C093FF17 ,  4C093FF20 ,  4C093FF23 ,  4C093FF28 ,  4C093FG04 ,  4C096AB50 ,  4C096AD12 ,  4C096AD14 ,  4C096DA01 ,  4C096DC12 ,  4C096DC15 ,  4C096DC16 ,  4C096DC20 ,  4C096DC21 ,  4C096DC24 ,  4C096DC28 ,  4C096DD08 ,  5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057BA07 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CD03 ,  5B057CE09 ,  5B057CG05 ,  5B057DA08 ,  5B057DC02 ,  5B057DC06 ,  5B057DC30 ,  5B057DC32 ,  5L096AA06 ,  5L096BA06 ,  5L096BA13 ,  5L096EA16 ,  5L096EA35 ,  5L096FA23 ,  5L096FA33 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA63 ,  5L096FA66 ,  5L096GA07 ,  5L096JA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (1)

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