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J-GLOBAL ID：200903014671598560

3次元関心領域計測方法及び装置

Inventor： 佐藤 一弘
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 松浦 憲三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996168988
Publication number (International publication number)：1998021362
Application date： Jun. 28, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】被測定対象内における任意の位置に所望の閉曲面を簡単に設定することができるとともに、その閉曲面内の画素値を抽出してその抽出した画素値の総数、平均値、分散、ヒストグラムなどの統計量の計測を可能にする。【解決手段】多数の断層像を積み重ねてなる被投影対象を含む3次元画像を所定の投影面に陰影付けして投影し、その投影像を前記被投影対象の擬似3次元画像としてモニタ画面に表示させる。一方、前記被投影対象が存在する空間内の任意の位置に球、回転楕円体、直方体などの閉曲面を設定し、その設定した閉曲面を前記投影面に陰影付けして投影し、その投影像を前記擬似3次元画像に重畳してモニタ画面に表示させる。前記閉曲面の位置の設定を変更することにより、閉曲面を空間内の任意の位置に移動可能にする。このようにして設定した閉曲面の内部に存在する被投影対象の画素値を抽出し、この抽出した画素値の平均値、標準偏差、分散などの統計量を求めるようにしている。

Claim (excerpt)：

多数の断層像を積み重ねてなる被投影対象を含む3次元画像を所定の投影面に陰影付けして投影し、その投影像を前記被投影対象の擬似3次元画像としてモニタ画面に表示させる工程と、前記被投影対象が存在する空間内の任意の位置に閉曲面を設定する工程と、前記閉曲面を前記投影面に陰影付けして投影し、その投影像を前記擬似3次元画像に重畳して前記モニタ画面に表示させる工程と、前記閉曲面の内部に存在する被投影対象の画素値を抽出し、この抽出した画素値の平均値、標準偏差、分散などの統計量を求める工程と、を含む3次元関心領域計測方法。

IPC (3)：

G06T 1/00 ,  A61B 6/03 360 ,  G06T 15/00

FI (3)：

G06F 15/62 390 B ,  A61B 6/03 360 G ,  G06F 15/72 450 K