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J-GLOBAL ID：200903014687441334

X線イメージセンサ及びX線検査装置

Inventor： 大森 康以知 ,  大土 哲郎 ,  筒井 博司 ,  馬場 末喜
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991200627
Publication number (International publication number)：1993045470
Application date： Aug. 09, 1991
Publication date： Feb. 23, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 ビームハードニングの影響を除く事が可能なX線イメージセンサと、被検体の厚さに依存せずに正確な物質量の測定がなされるX線検査装置を提供する。【構成】 Kエッジフィルタを装着したX線発生器5と、複数の単位検出素子1、2から構成されるX線イメージセンサの間に定量目的物である骨部8と軟組織7から構成される被検体を配置する。単位検出素子1、2はパルス計数方式のCdTe放射線検出器で、各々の検出器の出力はプリアンプ25、波高弁別回路26、計数回路27を通じて、高低2段の信号に分離計数される。軟組織7及びフィルタ4透過後の高エネルギーX線の強度Ih1f と、被検体透過後の低エネルギーX線の強度Il1f は、単位検出素子2で同時に計数され、計算処理部28で、Ih1f ,Il1f 等から、フィルタの物質量Tf×ρfを計算し、その実測値との比から、ビームハードニングの影響を補正する補正係数を得る。

Claim (excerpt)：

1次元に配列された複数個の単位検出素子と、その一部の単位検出素子のX線入射側に設けられ、測定しようとする物質または材料のX線吸収係数に同じもしくは近いX線吸収係数を有するフィルタと、フィルタの回転機構と、回転同期検出部を備えたことを特徴とするX線イメージセンサ。

IPC (2)：

G01T 7/00 ,  A61B 6/00 300