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J-GLOBAL ID：200903014729907274

工業的防腐防かび方法

Inventor：
浦島 誠

About 浦島 誠

, 
伊藤 盛剛

About 伊藤 盛剛


Applicant, Patent owner：
株式会社片山化学工業研究所

About 株式会社片山化学工業研究所


Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998208012
Publication number (International publication number)：2000038306
Application date： Jul. 23, 1998
Publication date： Feb. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】 通常の工業用殺菌剤の殺菌効力が低下する還元性雰囲気や高アルカリ性雰囲気の防腐防かび対象系においても、低毒性で、かつ低添加量で長期間防腐防かび効果を発揮する工業的防腐防かび方法を提供することを課題とする。【解決手段】 還元性雰囲気または高アルカリ性雰囲気の防腐防かび対象系に、該対象系に対して1mg/l以上の1,2-ベンゾイソチアゾリン-3-オンの存在下に、該対象系に対して1〜200mg/lの一般式(I):【化1】(式中、Xは水素原子またはハロゲン原子、Yは低級アルキル基をそれぞれ意味する)で表されるイソチアゾロン化合物またはその塩を添加することを特徴とする工業的防腐防かび方法により、上記課題を解決する。
Claim (excerpt)：
還元性雰囲気または高アルカリ性雰囲気の防腐防かび対象系に、該対象系に対して1mg/l以上の1,2-ベンゾイソチアゾリン-3-オンの存在下に、該対象系に対して1〜200mg/lの一般式(I):【化1】(式中、Xは水素原子またはハロゲン原子、Yは低級アルキル基をそれぞれ意味する)で表されるイソチアゾロン化合物またはその塩を添加することを特徴とする工業的防腐防かび方法。
IPC (3)：
A01N 43/80 102 ,  A01N 25/00 102 ,  A01N 25/22
FI (3)：
A01N 43/80 102 ,  A01N 25/00 102 ,  A01N 25/22
F-Term (2)：
4H011AA02 ,  4H011AA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
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