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J-GLOBAL ID：200903014774088560

画像データ解析装置

Inventor： 樋口 博 ,  坂口 英志
Applicant, Patent owner： 株式会社エム・シー・シー
Agent (1)： 溝井 章司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994164751
Publication number (International publication number)：1996007072
Application date： Jun. 23, 1994
Publication date： Jan. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 画像中の目標を迅速に抽出・表示するとともに有意目標画像の詳細表示を行う。【構成】 ビデオデータ21をラインシフトレジスタ29に一時記憶し、目標抽出フィルタ13、目標検出回路14で目標位置座標データ15を抽出する。全画面表示分のビデオデータ21はスクロールフレームメモリ31に順次記録され、検出目標位置にレチクルが重ね合わされ広域画像表示装置32に表示される。検出目標位置の画像はまたスクロールフレームメモリ31が読みだされて拡大表示メモリ35に記録され、全画面表示とは別に目標の詳細画像が表示される。検出目標位置はまた、狭視野撮像装置40の視野を目標に指向させ、より高分解能な目標画像を撮像するために活用される。

Claim (excerpt)：

以下の要素を有する画像データ解析装置(a)画像データを順次入力し、順次入力した画像データから画像データを所定量だけ順次記憶する画像データ記憶部、(b)上記画像データ記憶部に記憶される画像データの一部を解析データとして抽出する解析データ抽出手段、(c)上記解析データ抽出手段により抽出された解析データを基に、上記画像データ記憶部に記憶された画像データを解析する解析手段、(d)上記画像データ記憶部に記憶された画像データに対して上記解析手段により解析された結果を付加して上記画像データ記憶部に記憶された画像データを描画する描画手段。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 地球観測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-224081   Applicant：三菱電機株式会社
• 欠陥検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-124968   Applicant：オムロン株式会社
• 特開昭58-076974
  
• 特開昭61-013371