Pat

J-GLOBAL ID：200903014792863279

自動分析装置及び自動分析システム

Inventor： 浅井 英規
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992093133
Publication number (International publication number)：1993288756
Application date： Apr. 13, 1992
Publication date： Nov. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 自動分析装置に対して外部から自動的に各種のパラメータを転送することにより、オペレータの入力の手間をなくし、間違いをなくす。【構成】 試料識別手段3、試薬識別手段10、通信手段30,31,32を設け、自動的に試料識別手段、試薬識別手段によって試料識別コード4、試薬識別コード11を読み取り、その試料識別コード、試薬識別コードを通信手段を用いて外部コンピュータ29に送信し、外部コンピュータ29から試薬によって決まっている分析に関するパラメータ及びキャリブレーション等のための標準試料の濃度、検量線などのパラメータを自動分析装置に取り込む機能を有している。

Claim (excerpt)：

反応容器に試料と試薬を入れ、その化学反応によって、前記試料の内容物を定量する自動分析装置において、試料識別手段及び試薬識別手段のうち少なくとも1台の識別手段と、各種のパラメータを備える外部コンピュータと、通信手段を備え、前記識別手段で識別情報を読み取り、この識別情報を前記通信手段を経由して前記外部コンピュータに送り、前記外部コンピュータから前記通信手段を経由して分析に必要なパラメータを受取り、このパラメータを自動的に設定し、パラメータに従い分析を行うことを特徴とする自動分析装置。