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J-GLOBAL ID：200903014807734071

試料観察方法及びその装置

Inventor： 篠原 大三 ,  矢沢 雅彦
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991330567
Publication number (International publication number)：1993164969
Application date： Dec. 13, 1991
Publication date： Jun. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】試料の観察したい領域のみを走査して観察でき、反応の速い細胞の状態を観察するのに好適な方法及び装置を提供することを目的としている。【構成】共焦点顕微鏡10を用いて試料の断層像を得る方法であって、試料の光軸方向に亘る複数の試料断層像を画像記憶手段に記憶させ、次に画像記憶手段に記憶された複数の試料断層像の中から任意の断層面の試料断層像を読出して、その各試料断層像に対して観察領域とその観察順位をそれぞれ設定し、そして設定した観察領域を観察順位に従って順次走査する試料観察方法である。

Claim (excerpt)：

試料に対して光源からの光をスポット状に集光させるレンズと、前記試料と共役な位置に配置されたピンホールと、このピンホールを通過した光を光電変換して画像信号を出力する光検出器と、前記試料と前記レンズとを光軸と直交する面内で相対的に移動させて所定の断層面を2次元走査する第1の走査手段と、前記試料と前記レンズとを光軸方向に相対的に移動させる第2の走査手段と、前記光検出器から出力される画像信号を試料断層像データに変換して記憶する画像記憶手段と、この画像記憶手段に記憶された試料断層像データを表示する表示器とを備えた装置を用いる試料観察方法において、前記試料の光軸方向に亘る複数の試料断層像を前記画像記憶手段に記憶させる第1のステップと、前記画像記憶手段に記憶された複数の試料断層像の中から任意の試料断層像を読出して、その各試料断層像に対して観察領域とその観察順位をそれぞれ設定する第2のステップと、前記第2のステップで設定した観察領域及び観察順位に従って前記第1及び第2の走査手段を制御する第3のステップと、を備えた試料観察方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭60-212716
  
• 特開平2-247605
  
• 特開昭56-131940
  
• 特開昭48-030439