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J-GLOBAL ID：200903014855133322

電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置

Inventor： 豊岡 了 ,  門野 博史
Applicant, Patent owner： 埼玉大学長
Agent (1)： 川野 宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002275775
Publication number (International publication number)：2004109075
Application date： Sep. 20, 2002
Publication date： Apr. 08, 2004
Summary：

【課題】電子的スペックル干渉法を用いて、観察物体の動的な変形、振動、歪等を高精度に計測する方法および装置において、時間領域における位相変化曲線の位相アンラッピング処理を行う際に、該位相変化曲線における位相の接続点の検出を自動化する程度まで容易なものとする。【解決手段】スペックルパターン画像の各点毎の、時間領域における強度から、平均強度を引いて強度の余弦成分を算出するステップ(32)と、該余弦成分に対して、時間領域におけるヒルベルト変換処理を施して、強度の正弦成分を算出するステップ(33)と、算出された余弦成分と、算出された正弦成分との比の逆正接を求め、物体位相を決定するステップ(34)と、アンラッピング演算処理を行うステップ(35)と、3次元的変形分布データを表示し得るような形態で出力するステップ(36)からなる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

スペックル干渉法を用いて得られた、動的被観察体の位相情報を担持したスペックルパターン画像に基づき、所定位相範囲に位相ラッピングされた被観察体の位相変化曲線を解析により求め、この後、該位相変化曲線を位相アンラッピングする、電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法において、 所定時間毎に得られた複数の前記スペックルパターン画像に基づき、画像各点毎の時間領域における強度信号を求め、該強度信号の余弦成分を抽出し、抽出された該余弦成分に、時間領域におけるヒルベルト変換処理を施して前記強度信号の正弦成分を求め、求められた該正弦成分と前記余弦成分の比に基づいて前記画像各点毎の位相変化を求めて、前記被観察体の位相変化曲線を得ることを特徴とする電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法。

IPC (1)：

G01B11/16

FI (1)：

G01B11/16 G

F-Term (12)：

2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065FF42 ,  2F065FF56 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL12 ,  2F065LL30 ,  2F065LL49 ,  2F065QQ31