ポジトロンエミッションCT装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994044206
Publication number (International publication number)：1995253470
Application date： Mar. 15, 1994
Publication date： Oct. 03, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】時間分解能を向上させる。【構成】検出器310で検出された2のγ線が同時に放出されたかを検出するためのコインシデンス回路320と、同時に放出された2のγ線を検出した検出器対の位置からフレームデータを生成するためのアドレス変換回路330と、第1の位置でのフレームデータを格納するための第1のデータ収集メモリ340a,cと、第2の位置でのフレームデータを格納するための第2のデータ収集メモリ340b,dと、第1の位置でのフレームデータから、第2の位置でのフレームデータに対する第1の補間データを作成するための演算手段352とを備え、第1の補間データは、第1の位置にある時に対応する第2の位置でのフレームデータであり、第2の位置でのフレームデータ及び第1の補間データから、時間変化を含んだ被測定物内部の画像を構築する。

Claim (excerpt)：

被測定物の周りにリング状に多層配置された多数の検出器を軸方向に第1の位置から第2の位置に往復移動させて前記被測定物内部からのγ線を前記検出器で検出し、スライス状に前記被測定物内部の画像を構築するポジトロンエミッションCT装置であって、前記検出器で検出された対のγ線が同時に放出されたかを検出するためのコインシデンス回路と、前記同時に放出された対のγ線を検出した前記検出器対の位置からサイノグラムデータを生成するためのアドレス変換回路と、前記第1の位置でサイノグラムデータを一定時間収集して得た第1のフレームデータを格納するための第1のデータ収集メモリと、前記第2の位置でサイノグラムデータを一定時間収集して得た第2のフレームデータを格納するための第2のデータ収集メモリと、前記第1のフレームデータから、前記第1の位置でのスライスに対応し、前記第2のフレームデータを得た時点に対応する第1の補間データを作成するとともに、前記第1のフレームデータを得た時点の前記被測定物内部の画像について、前記第2の位置でのスライスに対応する前記被測定物内部の画像を前記第2のフレームデータから構築し、かつ、前記第1の位置でのスライスに対応する前記被測定物内部の画像を前記第1の補間データから構築する演算手段とを備えるポジトロンエミッションCT装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開平2-134589
特開平2-040586
特開昭63-238487

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