Pat
J-GLOBAL ID:200903014906245651

プロジェクション用液晶表示モジュールの検査方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 梅田 勝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995229053
Publication number (International publication number):1997073059
Application date: Sep. 06, 1995
Publication date: Mar. 18, 1997
Summary:
【要約】【課題】 各種の絵素欠陥の発生を検出すること、及び欠陥の位置を正確に特定することができず、検査漏れが発生する。【課題解決手段】 プロジェクション用液晶表示モジュール1の絵素欠陥の有無を検査し、絵素欠陥の位置を座標として測定する液晶プロジェクション用表示モジュールの検査方法において、絵素欠陥の検査を、投影スクリーン17上に拡大投影した状態で行う検査方法である。
Claim (excerpt):
プロジェクション用液晶表示モジュールの絵素欠陥の有無を検査し、該絵素欠陥の位置を座標として測定するプロジェクション用液晶表示モジュールの検査方法において、上記絵素欠陥の検査を、スクリーン上に拡大投影した状態で行うことを特徴とするプロジェクション用液晶表示モジュールの検査方法。
IPC (3):
G02F 1/13 505 ,  G02F 1/13 101 ,  G01R 31/00
FI (3):
G02F 1/13 505 ,  G02F 1/13 101 ,  G01R 31/00

Return to Previous Page