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J-GLOBAL ID：200903014940115945

不連続面の変位計測方法及び不連続面変位計

Inventor： 小杉 昌幸 ,  玉井 昭雄
Applicant, Patent owner： 工業技術院長 ,  株式会社大林組
Agent (2)： 一色 健輔 (外3名) ,  一色 健輔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993308277
Publication number (International publication number)：1995159146
Application date： Dec. 08, 1993
Publication date： Jun. 23, 1995
Summary：

【要約】【目的】 地盤の三次元的な挙動の評価を容易に行なうことができるとともに、地盤変形の大部分を支配する不連続面の変形を特定計測してして地盤変形の高精度かつ効果的な評価を可能にする不連続面の変位計測方法及び該計測方法に用いる不連続面変位計を提供する。【構成】 不連続面変位計10は、孔井13内において不連続面11を挟む一方の岩盤12内に設置される互いに直交する三面19を有する計測部14と、不連続面11を挟む他方の岩盤12内に設置される、前記計測部14の直交する三面19と各々対向する三軸方向の変位センサ26を有するセンサ部15とを有し、互いに直交する三面19の変位を各変位センサ26によって各々計測することにより、不連続面11の三次元的な変位を計測する。

Claim (excerpt)：

岩盤内のき裂面等の不連続面の変位を計測するための方法であって、前記不連続面を横断して孔井を穿孔し、該孔井内において不連続面を挟む一方には互いに交差する少なくとも三面を有する計測部を設置するとともに、前記不連続面を挟む他方には、前記計測部の前記少なくとも三面と各々対向する少なくとも三軸方向の変位センサを有するセンサ部を設置し、前記互いに交差する少なくとも三面の変位を各変位センサによって各々計測することにより、前記不連続面の三次元的な変位を計測することを特徴とする不連続面の変位計測方法。

IPC (3)：

G01B 21/00 ,  E02D 1/00 ,  G01D 21/00